3.1.9. Обратное рассеяние β-излучения от подложки

В 40-х годах ХХ века было обнаружено, что расхождения результатов измерения радиоактивности в различных лабораториях США достигают 50%; одна из причин такого расхождения — использование подложек из различного материала.

В результате процессов многократного рассеяния определенная доля β-частиц, испускаемых в направлении подложки, может отклоняться более чем на 90° от своего первоначального пути, т.е. по существу отражаться атомами подложки. Отношение числа частиц , испускаемых в телесный угол с поверхности препарата, нанесенного на подложку, к числу частиц I_S, испускаемых в этот телесный угол с поверхности препарата без подложки, представляет собой истинный коэффициент обратного рассеяния.

(3.42).

На практике пользуются не , а коэффициентами обратного рассеяния, которые находят как отношение скорости счета препарата, нанесенного на подложку, к скорости счета того же препарата без подложки.

Условия, в которых проводят определение коэффициентов обратного рассеяния, несколько отличаясь в различных работах, сводятся в основном к следующему. В качестве препаратов без подложки используют образцы, нанесенные на укрепленную на кольце-держателе тонкую органическую пленку, для которой эффект обратного рассеяния ничтожно мал. Кольцо-держатель с препаратом располагают на определенном расстоянии от детектора излучения. Подложки из исследуемых материалов определенной толщины помещают под препаратом таким образом, чтобы зазор между препаратом и подложкой был минимальным (рис.3.15).

Рис. 3.15. Измерительное устройство, применяемое при исследовании обратного рассеяния